|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Methods of separation of semiconductor devices by reliability with the use of a low-frequency noise and X-ray irradiation |
| Auteur: |
Gorlov, M. I. Smirnov, D. Yu. Zolotareva, E. A. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 40 (2011) nr. 1 pagina's 47-51 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |