|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Nano- and micrometer-scale thin-film-interconnection failure theory and simulation and metallization lifetime prediction, Part 2: Polycrystalline-line degradation and bulk failure |
| Auteur: |
Valiev, K. A. Goldstein, R. V. Zhitnikov, Yu. V. Makhviladze, T. M. Sarychev, M. E. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 39 (2010) nr. 3 pagina's 145-157 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |