|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of background impurities on the formation of stacking faults in silicon wafers |
| Auteur: |
Brinkevich, D. I. Prosolovich, V. S. Vabishchevich, S. A. Petlitskii, A. N. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 35 (2006) nr. 2 pagina's 94-97 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Nauka/Interperiodica, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |