|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Positron-Annihilation-Spectroscopy Study of Proton-Induced Defects in Silicon |
| Auteur: |
Grafutin, V. I. Ilyukhina, O. V. Myasishcheva, G. G. Kalugin, V. V. Prokopiev, E. P. Timoshenkov, S. P. Khmelevskii, N. O. Funtikov, Yu. V. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 34 (2005) nr. 3 pagina's 181-186 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Nauka/Interperiodica, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |