|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Identification of Trapping Effects and Ion Neutralization at the Insulator/Semiconductor Interface of MIS Structures from Dynamic Current–Voltage Characteristics of Ion Depolarization |
| Auteur: |
Gol'dman, E. I. Zhdan, A. G. Kukharskaya, N. F. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 29 (2000) nr. 6 pagina's 406-412 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |