|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the thickness, electrical conductivity, and impurity activation energy of semiconductor layers from microwave reflection spectra |
| Auteur: |
Usanov, D. A. Postel’ga, A. E. |
| Verschenen in: |
Russian journal of nondestructive testing |
| Paginering: | Jaargang 50 (2014) nr. 5 pagina's 299-306 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |