|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of X-Ray Diffraction Methods for Refractory Raw Material Quality Control |
| Auteur: |
Ivanova, T. I. Maslov, V. N. Gershkovich, S. I. Iksanov, F. R. Kovalenko, A. A. Tsunaeva, A. V. Markelov, S. A. |
| Verschenen in: |
Refractories and industrial ceramics |
| Paginering: | Jaargang 62 () nr. 1 pagina's 108-115 |
| Jaar: |
2021-07-26 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 19 gevonden artikelen
| volgende >> |