|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Diagnostics of semiconductor structures by means of an apertureless near-field terahertz microscope |
| Auteur: |
Trukhin, V. N. Golubo, A. O. Lyutetsky, A. V. Matveyev, B. A. Pikhtin, N. A. Samoilov, L. L. Sapozhnikov, I. D. Tarasov, I. S. Fel’shtyn, M. L. Khor’kov, D. P. |
| Verschenen in: |
Radiophysics and quantum electronics |
| Paginering: | Jaargang 54 (2012) nr. 8-9 pagina's 577-584 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |