|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Retrieval of the Characteristics and Determination of the Parameters of Statistical Nanometer Surface Roughness using the Data on Scattering in a Planar Optical Waveguide in the Presence of Additive Noise |
| Auteur: |
Egorov, A. A. |
| Verschenen in: |
Radiophysics and quantum electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 (2002) nr. 7 pagina's 527-533 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |