|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
The Relationship of the Degree of Exposure to a Technological Disaster and Emotional Response: A Structural Model Approach |
| Auteur: |
Adolfo Jarne Esparcia Joan Guárdia Olmos |
| Verschenen in: |
Quality and quantity |
| Paginering: | Jaargang 35 (2001) nr. 2 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2001-05 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, The Netherlands |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |