|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Use of Wavelets to Compare Simulated Yield Patterns for Precision Agriculture at the Field Scale |
| Auteur: |
A. (Jan) Verhagen A. Stein V. Epinat |
| Verschenen in: |
Precision agriculture |
| Paginering: | Jaargang 2 (2000) nr. 4 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
2000-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |