|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Ultra-Shallow Chemical Characterization of Organic Thin Films Deposited by Plasma and Vacuum-Ultraviolet, Using Angle- and Excitation Energy-Resolved XPS |
| Auteur: |
Girard-Lauriault, Pierre-Luc Ruiz, Juan-Carlos Gross, Thomas Wertheimer, Michael R. Unger, Wolfgang E. S. |
| Verschenen in: |
Plasma chemistry and plasma processing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2011) nr. 4 pagina's 535-550 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| << vorige |