|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Refracted X-Ray Fluorescence (RXF) Applied to the Study of Thin Films and Thermally-Grown Oxide Scales |
| Auteur: |
Koshelev, I. Paulikas, A. P. Veal, B. W. |
| Verschenen in: |
Oxidation of metals |
| Paginering: | Jaargang 51 (1999) nr. 1-2 pagina's 23-54 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |