|
Analysis of dark current considering trap-assisted tunneling mechanism for InGaAs PIN photodetectors |
|
|
|
Titel: |
Analysis of dark current considering trap-assisted tunneling mechanism for InGaAs PIN photodetectors |
Auteur: |
Ma, Xiaokai Huang, Yongqing Fei, Jiarui Chen, Qingtao Liu, Tao Liu, Kai Duan, Xiaofeng Yan, Xin Ren, Xiaomin |
Verschenen in: |
Optical and quantum electronics |
Paginering: |
Jaargang 49 (2017) nr. 12 pagina's 1-11 |
Jaar: |
2017 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer US, New York |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|