Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
 
 
  Reliability analysis and comparison of demodulation methods for Raman distributed temperature sensor
 
 
Titel: Reliability analysis and comparison of demodulation methods for Raman distributed temperature sensor
Auteur: Luo, S.
Chang, J.
Zhang, S. S.
Wang, Z. L.
Jiang, S.
Sun, B. N.
Jia, C. W.
Wang, F. P.
Verschenen in: Optical and quantum electronics
Paginering: Jaargang 46 (2014) nr. 12 pagina's 1595-1608
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland