|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Improved SPR technique for determination of the thickness and optical constants of thin metal films |
| Auteur: |
Ding, Y. Cao, Z.Q. Shen, Q.S. |
| Verschenen in: |
Optical and quantum electronics |
| Paginering: | Jaargang 35 (2003) nr. 12 pagina's 1091-1097 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |