|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
The lowfrequency electrical noise as reliability estimation for high power semiconductor lasers |
| Auteur: |
Hu Guijun Shi Jiawei Zhang Shumei Li Yongjun |
| Verschenen in: |
Optical and quantum electronics |
| Paginering: | Jaargang 34 (2002) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2002-10 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, The Netherlands |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |