Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 7 van 18 gevonden artikelen
 
 
  Exact Likelihood-Ratio Tests for a Simple Step-Stress Cumulative Exposure Model with Censored Exponential Data
 
 
Titel: Exact Likelihood-Ratio Tests for a Simple Step-Stress Cumulative Exposure Model with Censored Exponential Data
Auteur: Zhu, Xiaojun
Balakrishnan, N.
Zhou, Yiliang
Verschenen in: Methodology and computing in applied probability
Paginering: Jaargang 22 () nr. 2 pagina's 497-509
Jaar: 2019-05-03
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 7 van 18 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland