|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of the Hardness of Thin Films |
| Auteur: |
Bykov, Yu. A. Karpukhin, S. D. Panfilov, Yu. V. Boichenko, M. K. Cheptsov, V. O. Osipov, A. V. |
| Verschenen in: |
Metal science and heat treatment |
| Paginering: | Jaargang 45 (2003) nr. 9-10 pagina's 396-399 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |