|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Calibration of Scanning Electron Microscopes over a Wide Range of Magnifications |
| Auteur: |
Kirtaev, R. V. Kuzin, A. Yu. Maslov, V. G. Mityukhlyaev, V. B. Todua, P. A. Filippov, M. N. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 59 (2017) nr. 12 pagina's 1245-1249 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |