|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
A measuring System for the Spectroscopy of the Low-Frequency Noise of Semiconductor Diode Structures |
| Auteur: |
Kostryukov, S. A. Ermachikhin, A. V. Litvinov, V. G. Kholomina, T. A. Rybin, N. B. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 56 (2013) nr. 9 pagina's 1066-1071 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |