|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
An Estimate of the Uncertainty of Measurements of Lattice Spacings in Silicon Single Crystals Using a Laboratory x-Ray Diffractometer |
| Auteur: |
Gavrilenko, V. P. Ermakova, M. A. Zablotskii, A. V. Kuzin, A. Yu. Todua, P. A. Filippov, M. N. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 56 (2014) nr. 12 pagina's 1339-1342 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |