|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Ellipsometric Technique for Estimating the Thickness Nonuniformity of Thin-Film Coatings |
| Auteur: |
Baturin, A. S. Bormashov, V. S. Gavrilenko, V. P. Zablotskii, A. B. Zaitsev, S. A. Kuzin, A. Yu. Todua, P. A. Filippov, M. N. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 56 (2014) nr. 11 pagina's 1224-1232 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |