|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Reconstructed silicon surfaces for calibration of scanning tunnel microscopes |
| Auteur: |
Kuzin, A. Yu. Todua, P. A. Panov, V. I. Oreshkin, A. I. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 55 (2012) nr. 7 pagina's 773-779 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |