|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Standard sample for calibration of transmission electron microscopes nanometrology |
| Auteur: |
Bodunov, D. S. Gavrilenko, V. P. Zablotskii, A. V. Kuzin, A. A. Kuzin, A. Yu. Mityukhlyaev, V. B. Rakov, A. V. Todua, P. A. Filippov, M. N. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 55 (2012) nr. 10 pagina's 1137-1140 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |