|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Noise spectroscopy as a method of monitoring the quality of developed semiconductor devices |
| Auteur: |
Miroshnikova, I. N. Astakhov, V. P. Zenova, E. V. Tagachenkov, A. M. Rachnikov, D. A. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 54 (2011) nr. 6 pagina's 712-715 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |