|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
An investigation of methods of measuring the diameter of the electron probe of scanning electron microscopes using modern nanometer band standard measures |
| Auteur: |
Bulygin, F. V. Lyaskovskii, V. L. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 53 (2010) nr. 9 pagina's 996-1001 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |