|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of linear dimensions of pattern elements of micro- and nano-structures under high- and low-voltage scanning electron microscopes |
| Auteur: |
Volk, Ch. P. Novikov, Yu. A. Rakov, A. V. Todua, P. A. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 52 (2009) nr. 1 pagina's 20-25 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |