|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
A test object with a line width less than 10 nm for scanning electron microscopy |
| Auteur: |
Danilova, M. A. Mityukhlyaev, V. B. Novikov, Yu. A. Ozerin, Yu. V. Rakov, A. V. Todua, P. A. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 51 (2008) nr. 8 pagina's 839-843 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |