|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Accuracy in linear dimensions measurement in scanning electron microscopes in microtechnology and nanotechnology |
| Auteur: |
Novikov, Yu. A. Rakov, A. V. Todua, P. A. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 51 (2008) nr. 6 pagina's 599-604 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 26 gevonden artikelen
| volgende >> |