|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
The direct measurement of linewidth using an atomic force microscope |
| Auteur: |
Novikov, Yu. A. Rakov, A. V. Todua, P. A. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 51 (2008) nr. 5 pagina's 470-474 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |