|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Conceptual Foundations for the Assurance of the Uniformity of Measurements and for Increasing the Precision of Measurements in Modern Objective Photometry |
| Auteur: |
V. S. Ivanov A. F. Kotyuk V. I. Sapritskii R. I. Stolyarevskaya |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 45 (2002) nr. 2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2002-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |