|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning Force Microscope Measurement of the Parameters of the Profiles of Submillimeter VLSI Components |
| Auteur: |
E. S. Gornev Yu. A. Novikov Yu. I. Plotnikov A. V. Rakov |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 44 (2001) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2001-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |