|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 91 gevonden artikelen
| Titel: |
A small defect detection technique for industrial product surfaces based on the EA-YOLO model |
| Auteur: |
Li, Biao Wang, Bing Hu, Xiong Zhai, Jianhui Ji, Changping |
| Verschenen in: |
The Journal of supercomputing |
| Paginering: | Jaargang 81 () nr. 2 pagina's xx |
| Jaar: |
2025-01-21 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 91 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |