|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Returns to Scale on Nonparametric Deterministic Technologies: Simplifying Goodness-of-Fit Methods Using Operations on Technologies |
| Auteur: |
Briec, Walter Kerstens, Kristiaan Leleu, Hervé Eeckaut, Philippe Vanden |
| Verschenen in: |
Journal of productivity analysis |
| Paginering: | Jaargang 14 (2000) nr. 3 pagina's 267-274 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |