Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 47 van 87 gevonden artikelen
 
 
  New EXAFS Measurements by XEOL and TEY on Porous Silicon
 
 
Titel: New EXAFS Measurements by XEOL and TEY on Porous Silicon
Auteur: Daldosso, Nicola
Rocca, Francesco
Dalba, Giuseppe
Fornasini, Paolo
Grisenti, Rolly
Verschenen in: Journal of porous materials
Paginering: Jaargang 7 (2000) nr. 1-3 pagina's 169-172
Jaar: 2000
Inhoud:
Uitgever: Kluwer Academic Publishers, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 47 van 87 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland