|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Porosimetry Measurements on Low Dielectric Constant—Thin Layers by Coupling Spectroscopic Ellipsometry and Solvent Adsorption-Desorption |
| Auteur: |
Revol, Patrick Perret, Damien Bertin, François Fusalba, Florence Rouessac, Vincent Chabli, Amal Passemard, Gérard Ayral, André |
| Verschenen in: |
Journal of porous materials |
| Paginering: | Jaargang 12 (2005) nr. 2 pagina's 113-121 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |