|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of the integrity of silicon thin films on the electrical characteristics of thin dielectric ONO film |
| Auteur: |
DONG-WON KIM KAP-JUNG KIM DONG-IL KIM WON-JUN LEE SEUNG-YUN LEE YOUNG J LEE SA-KYUN RHA CHONG-OOK PARK |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 8 (1997) nr. 2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Chapman and Hall |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |