|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the influence of Al layer and total film thicknesses on structural and related magnetic properties in sputtered Ni/Al multilayer thin films |
| Auteur: |
Kaplan, Nadir Kuru, Hilal Köçkar, Hakan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 35 () nr. 4 pagina's xx |
| Jaar: |
2024-02-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |