|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 84 gevonden artikelen
| Titel: |
Deep-level transient spectroscopy analysis of interface defects in Ce:ZnO/p-Si heterostructures |
| Auteur: |
Öztel, Halim Onur Akçay, Namık Algün, Gökhan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 35 () nr. 18 pagina's xx |
| Jaar: |
2024-06-25 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 84 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |