Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 57 van 69 gevonden artikelen
 
 
  Study on high temperature reliability of electrical interconnection material of SiC pressure sensor
 
 
Titel: Study on high temperature reliability of electrical interconnection material of SiC pressure sensor
Auteur: Xue, Tiange
Huang, Zeya
Zhang, Xiaotian
Meng, Meng
Yu, Shixiang
Chen, Tian
Fu, Renli
Verschenen in: Journal of materials science. Materials in electronics
Paginering: Jaargang 35 () nr. 10 pagina's xx
Jaar: 2024-04-03
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 57 van 69 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland