|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 119 gevonden artikelen
| Titel: |
Characteristic analysis of the MoS2/SiO2 interface field-effect transistor with varying MoS2 layers |
| Auteur: |
Li, Haixia Li, Youyong Jiang, Han Mao, Lingfeng Ni, Yanan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 34 () nr. 5 pagina's xx |
| Jaar: |
2023-02-04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 119 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |