|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterisation of interface states of Al/p-Si Schottky diode by current–voltage and capacitance–voltage–frequency measurements |
| Auteur: |
Moloi, S. J. Bodunrin, J. O. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 34 () nr. 24 pagina's xx |
| Jaar: |
2023-08-24 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |