|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of Al2O3 layer thickness on leakage current and dielectric properties of atomic layer deposited Al2O3/TiO2/Al2O3 nano-stack |
| Auteur: |
Padhi, Partha Sarathi Ajimsha, R. S. Rai, Sanjay Kumar Bose, Aniruddha Misra, Pankaj |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 34 () nr. 14 pagina's xx |
| Jaar: |
2023-05-17 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |