|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Detrimental angle range between c axis of Sn crystal and electron flow for the electromigration reliability of ball grid array devices |
| Auteur: |
Li, Xiao Gao, Li-Yin Tao, Jun-Lei Dai, Shu-Jun Liu, Zhi-Quan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 22 pagina's 17877-17887 |
| Jaar: |
2022-07-20 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |