|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ X-ray photoelectron spectroscopy study: effect of inert Ar sputter etching on the core-level spectra of the CVD-grown tri-layer MoS2 thin films |
| Auteur: |
Jayaseelan, V. Kalaiezhily, R. K. Shinde, Nitin Babu Kamala Bharathi, K. Navaneethan, M. Eswaran, Senthil Kumar |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 11 pagina's 8741-8746 |
| Jaar: |
2021-08-24 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |