|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 130 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of the oxide/interface traps on the electrical characteristics in Al/Yb2O3/SiO2/n-Si/Al MOS capacitors |
| Auteur: |
Morkoç, Berk Kahraman, Ayşegül Yılmaz, Ercan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 7 pagina's 9231-9243 |
| Jaar: |
2021-03-07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 130 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |