|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of in situ current stressing on Sn-based solder joint shear stability |
| Auteur: |
Fuller, Scott Sheikh, Mohamed Baty, Greg Kim, Choong-Un Lee, Tae-Kyu |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 3 pagina's 2853-2864 |
| Jaar: |
2021-01-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |