|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of swift heavy ion irradiation on the performance of HfO2-based resistive random access memory devices |
| Auteur: |
Arun, N. Sangani, L. D. Varma Vinod Kumar, K. Mangababu, A. Krishna, M. Ghanashyam Pathak, A. P. Nageswara Rao, S. V. S. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 3 pagina's 2973-2986 |
| Jaar: |
2021-01-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |