|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 89 van 116 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural characterization of polycrystalline thin films by X-ray diffraction techniques |
| Auteur: |
Pandey, Akhilesh Dalal, Sandeep Dutta, Shankar Dixit, Ambesh |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 2 pagina's 1341-1368 |
| Jaar: |
2021-01-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 89 van 116 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |